440 – Inspection et test des cartes électroniques (Design for test et stratégie de test, outils associés)

Description

PUBLIC CONCERNÉ

Chefs de projets, responsables méthodes électroniques, personnel des services production, R&D et bureaux d’études.

OBJECTIFS

• Connaître les stratégies, techniques et interfaces de tests, les règles de Design for Test (DFT).
• Étude d’un cas concret.

PRÉREQUIS

• Savoir lire, écrire et compter.
• Niveau minimum BAC Technique, BAC+2.
• Savoir lire un schéma électronique.
• Savoir inspecter un assemblage électronique.
• Avoir des connaissances théoriques sur les lignes d’assemblages de produits électroniques.
• OU Il est demandé d’avoir assisté à la formation IFTEC N°100 « les cartes électroniques » puis N°300 « brasage des cartes électroniques ».

MOYENS PÉDAGOGIQUES

• Animation par vidéo projection, photos.
• Logiciel d’analyse de testabilité : TESTWAY
• Support PDF imprimable disponible en téléchargement avant la formation (résumé du cours, photos).

ÉVALUATION DES ACQUIS

• QCM de 20 questions à livre fermé en début et en fin de stage.
• Le niveau de réussite de la formation est conditionné à un score minimum : obtention de la moyenne lors du QCM final.

PROGRAMME

1 – TESTER UNE CARTE ÉLECTRONIQUE

• Importance du design for test (DFT) pendant la conception d’un nouveau produit.
• Le test : coût et retour sur investissement.
• Définir une stratégie de test.
• Normes sur le test liées à l’utilisation finale du produit.
• Règles pour le choix de l’instrumentation.

2 – LES DIFFÉRENTES TECHNIQUES DE TEST

• Les systèmes présents sur une ligne de production.
• Test optique AOI 2D/3D et rayon X.
• Test in-situ :
  – Principe de base.
  – Les niveaux de test.
  – Les différents types de testeurs.
  – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
• Boundary-Scan :
  – Principe.
  – Conditions pour implémenter le Boundary Scan.
  – Intégration dans les outils de test.
  – Avantages-Inconvénients-limitations.
• Test fonctionnel :
  – Principe.
  – Les différentes catégories de systèmes.
  – Exemple de testeurs fonctionnels.
  – Spécifications – Avantages-Inconvénients-limitations.
• Test final du produit.
• Tests combinés (in-situ/Fonctionnel/Boundary Scan).
• Test de déverminage.
• Test de fiabilité (Halt/Hass).
• Avantages, inconvénients pour chaque technique de test – Spectre de défauts.

3 – LES INTERFACES DE TEST

• Généralités.
• Description.
• Les différentes catégories (à vide, à compression, manuelles, simple puits, double puits, etc…).
• Les interfaces in-situ.
• Les interfaces fonctionnelles.
• Les constituants exotiques d’une interface (compteur, pointes switch, graveur, etc.).
• Données nécessaires à la réalisation d’une interface.
• Les aiguilles de test.

4 – RÈGLES DE DESIGN FOR TEST (DFT)

• Règles de conception.
• Règles mécaniques à prendre en compte lors de la conception du produit.
• Règles d’accessibilité.
• Règles électriques à prendre en compte lors de la conception du produit.
• Définition de la couverture de test prédictive et réelle.

5 – STRATÉGIE DE TEST

• Définition.
• Données à collecter pour définir sa stratégie de test et déterminer le taux de couverture.
• Logiciel d’analyse de testabilité : TESTWAY.
• Méthode de calcul de la couverture de test
• Questions pertinentes pour bien choisir sa stratégie de test.
• Précautions suivants le type de cartes à tester (alimentation, RF, HF, présence haute tension, etc.).

6 – DE LA CONCEPTION AU TEST D’UN PRODUIT – ÉTUDE DE CAS

• Déroulement typique d’un projet.
• Exercice sur l’étude d’un cas concret prédéfini par le formateur pour travailler les différents principes vus précédemment :
  – Calcul du taux de couverture.
  – Présentation de la stratégie adoptée.
  – Discussion.
  – Conclusion.